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探針分類探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；B、在線測試探針：

PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（B1ade Type）和環氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針（ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業內的標準稱呼100mi1，75mi1，50mi1，還有更特別的直徑只有0.19mm，主要用于在線電路測試和功能測試.

也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應用較多的一種探針.

2.界面探針（Interface Probes）非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne）和安捷倫（Agilent）.用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.

3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關探針（Switch Probes）開關探針單一支探針有兩路電流.

5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.

7.高電流探針（High Current Probes）探針直徑在

2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針（Semiconductor Probes）直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz，50Q characteristic

9.電池接觸探針（Battery and Connector Contacts）一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

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